- Desteklenen İS
- Windows, Linux
Memtest86+, IA-32, x86-64, ARM64 ve LoongArch64 sistemleri için geliştirilmiş, ücretsiz ve açık kaynaklı, bağımsız bir bellek test aracıdır.
BIOS bellek testlerine kıyasla daha kapsamlı bir bellek denetimi gerçekleştirir. x86 sistemlerde Memtest86+, doğrudan PC BIOS'u (eski BIOS veya UEFI) üzerinden ya da Linux önyükleme protokolünü destekleyen bir ara önyükleyici aracılığıyla yüklenip çalıştırılabilir.
Pentium sınıfı veya daha yeni 32 bit x86 işlemcilerde, tüm 64 bit x86 işlemcilerde, ARMv8-A AArch64 işlemcilerin çoğunda (yalnızca UEFI ve ACPI desteğiyle) ve desteklenen Loongson LA64 sistemlerinde çalışması beklenir.
NOT: Memtest86+, PassMark Software Pty Ltd. Memtest86'nın bir sürümü değildir.
BIOS bellek testlerine kıyasla daha kapsamlı bir bellek denetimi gerçekleştirir. x86 sistemlerde Memtest86+, doğrudan PC BIOS'u (eski BIOS veya UEFI) üzerinden ya da Linux önyükleme protokolünü destekleyen bir ara önyükleyici aracılığıyla yüklenip çalıştırılabilir.
Pentium sınıfı veya daha yeni 32 bit x86 işlemcilerde, tüm 64 bit x86 işlemcilerde, ARMv8-A AArch64 işlemcilerin çoğunda (yalnızca UEFI ve ACPI desteğiyle) ve desteklenen Loongson LA64 sistemlerinde çalışması beklenir.
NOT: Memtest86+, PassMark Software Pty Ltd. Memtest86'nın bir sürümü değildir.
V9.00 ile Gelen Yenilikler:
ARM64 (AArch64) Artık Destekleniyor!
Memtest86+ artık UEFI ve ACPI desteğine sahip ARM64 platformlarında çalışıyor! AArch64 desteği şu ana kadar Qualcomm Snapdragon X işlemcili dizüstü bilgisayarlarda, Raspberry Pi 4 ve 5 modellerinde (topluluk tarafından geliştirilen UEFI ürün yazılımıyla) ve QEMU üzerinde test edildi.
Raporu USB Belleğe Kaydetme
Raporları USB belleğe kaydetme özelliği, muhtemelen en çok talep edilen özellikti. Sistem bilgilerini, bellek modüllerini ve test sonuçlarını içeren tam metin raporunu FAT32 biçiminde formatlanmış bir USB belleğe kaydetmek için F6 tuşuna basın.
Kaydedilen her rapora ayrı bir numara atanır, böylece önceki raporların üzerine yazılmaz.
Kaydedilen her rapora ayrı bir numara atanır, böylece önceki raporların üzerine yazılmaz.
64-bit CPU'larda SIMD Testleri
Yeni Bus stres testiyle (aşağıya bakınız) birlikte, eski rastgele sıralı hareket testi, daha büyük vektör komutlarından yararlanmak için SIMD'ye dönüştürüldü. Her ikisi de CPU önbelleklerini atlayan ve doğrudan ana belleğe yazan geçici olmayan depolama işlemleri kullanır; bu da skalar testlere göre önemli ölçüde daha yüksek bellek erişimi/trafik ile sonuçlanır.
BUS Stres Testi
Bu yeni test, modern platformlarda (DDR5 ve üzeri) yaygın olarak görülen veri yolu arayüzü zayıflıklarını hedeflerken eski mimarilerde de zorlayıcı olmaya devam eder. Test dizisi, yazma patlamaları ile okuma ve doğrulama işlemleri arasında sürekli geçiş yaparken araya boşta kalma süreleri de ekleyerek modülün PMIC'si (Güç Yönetimi Entegresi) üzerinde yük değişimleri oluşturur. Bu tür hatalar, kalıp içi ECC (On-Die ECC) tarafından düzeltilemez. Bu yöntem; elektriksel gürültü veya voltaj düşüşlerinden kaynaklanan sinyal bütünlüğü sorunları gibi arayüz kaynaklı hataları ya da XMP/EXPO bellek eğitimi sorunlarını ortaya çıkarabilir.
Bu, kararsız şekilde hız aşırtılmış bir DDR5 bellek kitinde veya yüksek bellek yoğunluğuna sahip sunucu anakartlarında gerçek kullanım koşullarında karşılaşılabilecek sorunları tespit etmek için tasarlanmıştır.
Bu, kararsız şekilde hız aşırtılmış bir DDR5 bellek kitinde veya yüksek bellek yoğunluğuna sahip sunucu anakartlarında gerçek kullanım koşullarında karşılaşılabilecek sorunları tespit etmek için tasarlanmıştır.
Geliştirilmiş Bit Zayıflama Testi (Bit Fade Test)
Önceki 0 ve 1 bit doldurma işlemlerine ek olarak, her test geçişinin sonunda yeni bir rastgele dizi kullanılır. Artık her DRAM hücresi rastgele verilerle doldurulurken bitişiğindeki hücrede bunun tersi değer tutulur. Tüm CPU çekirdekleri artık bellek hücrelerini aynı anda doldurur ve doğrular.
Rowhammer (Test #11)
Hedef Satır Yenileme (Target Row Refresh – tRR), modern DIMM bellek modüllerinde klasik çift taraflı Rowhammer saldırısını etkisiz hâle getirmek için kullanılan bir özelliktir.
Bu testte, 2022 yılında yayımlanan araştırmalardaki Blacksmith tarzı örüntüler kullanılır. Bu örüntüler; eşit olmayan erişim dağılımlarına sahip, çok taraflı ve DRAM yenileme işlemleriyle senkronize edilmiş erişimlerden oluşur.
Bellek satırlarının yerleşimi, erişim zamanlamaları analiz edilerek tahmin edilir (DRAMA-lite yaklaşımı). Tespit edilen hatalar raporlanır ancak BadRAM örüntülerine dâhil edilmez.
Bu testte, 2022 yılında yayımlanan araştırmalardaki Blacksmith tarzı örüntüler kullanılır. Bu örüntüler; eşit olmayan erişim dağılımlarına sahip, çok taraflı ve DRAM yenileme işlemleriyle senkronize edilmiş erişimlerden oluşur.
Bellek satırlarının yerleşimi, erişim zamanlamaları analiz edilerek tahmin edilir (DRAMA-lite yaklaşımı). Tespit edilen hatalar raporlanır ancak BadRAM örüntülerine dâhil edilmez.
